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高級動態(tài)性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器簡介

作者: 時間:2012-07-31 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

為了確保LVDS接口的調(diào)試功能,芯片可以支持不同的測試模式,包括預(yù)設(shè)測試模式和用戶自選測試模式。此外,這款雙通道芯片的許多功能都可加以設(shè)定,例如,可以將個別控制引腳連接電源或地線,然后進行設(shè)定,也可利用串行外圍設(shè)備接口(SPI)設(shè)定有關(guān)功能。

圖3顯示一幅典型的眼圖,圖中清楚顯示串行LVDS接口如何傳送數(shù)據(jù)。圖中的信號以80MSPS或1.12Gbps的速度傳送,信號抖動,例如隨機抖動、確定性抖動以及不同數(shù)據(jù)的不同抖動,都清楚顯示出來。以上抖動所產(chǎn)生的任何影響都必須計算在內(nèi),以便取得數(shù)據(jù)捕捉窗口。這款為數(shù)據(jù)捕捉提供90%的窗口容限。



圖3 ADC14DS105 芯片以1.12Gbps速度工作時的眼圖

IDCW=80MS/s×14bit=1.12Gbps=1bit/892.9 ps

ADCW=100×(1 - Tj/IDCW)=100×(1-85ps/892.9ps)=90.5%

公式中的IDCW是理想數(shù)據(jù)捕捉窗口,而ADCW是真實數(shù)據(jù)捕捉窗口。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/186026.htm 光電開關(guān)相關(guān)文章:光電開關(guān)原理

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