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石英晶體振蕩器的微處理器溫度補償技術研究

作者: 時間:2013-07-16 來源:網(wǎng)絡 收藏

5 補償結果分析
系統(tǒng)置于高低溫實驗箱中,可測得不同溫度下的輸出頻率變化量△f(△f為測得的實際頻率值與標稱頻率值之間的差值),以及此溫度下對應的補償電壓UK,如表1所列。

本文引用地址:http://www.bjwjmy.cn/article/159316.htm

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表1數(shù)據(jù)擬合后分別對應圖8和圖9,10 MHz AT切石英晶振前頻率變化量與溫度的關系曲線和10MHz AT切石英晶振補償電壓與溫度的關系曲線兩者的變化趨勢相反,從而起到補償作用。為了更好地描述輸出頻率的變化趨勢,引入了△f/f(相對頻率變化量)來描述頻率變化關系。

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補償后不同溫度下對應的輸出頻率變化量如表2所列。在-20~+85℃補償后,晶振的輸出頻率變化量在±7 Hz浮動,與補償前比較,其輸出頻率變化量大大減小,從而有效地減小了頻率偏移,起到了很好的補償效果。

結語
本設計采用功能強大的,充分利用了芯片所具有的內部資源并發(fā)揮軟件的優(yōu)勢,通過軟件與硬件電路相結合的方法,使經過后的具有結構簡單、精度高、功耗低、穩(wěn)定性高、造價低、開機即可工作等優(yōu)勢,可應用在工程實踐領域。

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