為了更加全面準(zhǔn)確地觀察PXI儀器所帶來(lái)的性能提升，所進(jìn)行的這些測(cè)量需要進(jìn)行若干次。下面所示的所有數(shù)據(jù)是在每一種配置下進(jìn)行10次測(cè)量后的均值。如圖6中所示，若使用基于PXI的測(cè)量系統(tǒng)(而不是傳統(tǒng)儀器)，CCDF測(cè)量時(shí)間可以減少33%。此處，你可以看到NI 8353 四核機(jī)架式控制器可以達(dá)到最高的測(cè)量速度。

　　對(duì)于處理器密集型的物理層測(cè)量來(lái)說(shuō)，選擇不同的處理器對(duì)總體的測(cè)量時(shí)間影響很大。在圖7至9中，可以看到傳統(tǒng)儀器和PXI儀器在測(cè)量時(shí)間和平均次數(shù)之間的關(guān)系?！　?/p>

 　　對(duì)于諸如EVM測(cè)量這樣的處理器密集型應(yīng)用來(lái)說(shuō)，選擇不同的處理器對(duì)總體的測(cè)量時(shí)間影響很大。例如，一個(gè)EVM測(cè)量如果設(shè)定為對(duì)五個(gè)點(diǎn)進(jìn)行平均值運(yùn)算，若使用PXIe-8130嵌入式雙核控制器需要342毫秒，若使用NI 8353四核控制器則所需時(shí)間縮減33%，只需要228毫秒。在相鄰?fù)ǖ佬孤┍嚷?Adjacent channel leakage ratio, ACLR)測(cè)量中也可看到類似的結(jié)果，如圖8所示?！　?/p>

 　　在ACLR測(cè)量中，使用PXI RF測(cè)量系統(tǒng)可以比傳統(tǒng)儀器快16倍。對(duì)于一個(gè)ACLR測(cè)量(不考慮配置所需時(shí)間)來(lái)說(shuō)，典型的測(cè)試時(shí)間不超過(guò)8毫秒，這比常規(guī)的時(shí)域 ACLR測(cè)量時(shí)間還短。圖9所示為最后一項(xiàng)測(cè)量結(jié)果，即為占用帶寬的測(cè)量?！　?/p>

　　在圖9中你可以看到，對(duì)于一些測(cè)量來(lái)說(shuō)，在達(dá)到相同的測(cè)量結(jié)果時(shí)，PXI RF儀器可以比傳統(tǒng)儀器快30倍。此外，在一些需要更多的平均次數(shù)的測(cè)量中，PXI儀器在絕對(duì)的測(cè)量時(shí)間上的優(yōu)勢(shì)更為顯著。